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전자여권 및 스마트카드 시험

업무개요

스마트카드(SmartCard)는 집적회로(IC)가 내장된 카드로 그 편리성과 보안이 우수하여, 금융/ID/통신/교통 등 다양한 분야에서 이용되고 있습니다. 우리 연구원은 ISO/IEC 7816, 14443, 10373-6 등 스마트카드 분야 국제공인시험기관(KOLAS)으로 스마트카드 및 관련시스템(단말기 등)의 표준적합성, 내구성, 보안 등에 대한 시험을 수행하고 있습니다.

전자여권(ePassport) 및 판독기 등 ID분야
  • - 국제민간항공기구(ICAO) 표준적합성시험
  • - ISO/IEC 10373-6(2001, 2011) 관련시험
  • - 국제민간항공기구(ICAO) 내구성시험
  • - 전자여권 및 판독기 노화시험(Aging)
  • - 전자여권 상호호환성 및 BMT
금융 및 교통카드 분야
  • - 금융결제원 IC카드 품질인증시험
  • - 전자화폐(K-CASH) 품질인증시험
  • - 전자화폐 및 IC카드 단말기 품질인증시험
  • - 한국도로공사 하이패스카드 품질인증시험
  • - 모바일 하이패스카드 품질인증시험
모바일 근거리무선통신(NFC) 분야
  • - NFC Forum 1st Wave 인증시험(Digital Protocol)
  • - NFC Forum 2nd Wave 인증시험(RF/Analog, SNEP/LLCP)
  • - NFC Device Confomity Test(A/B/F)
  • - NFC Device 환경시험
  • - ETSI SWP/HCI Card 및 Terminal 시험
EMV L1 시험인증용 디버깅 시험
  • - EMV L1 PCD Digital Protocol/EMD 시험
  • - EMV L1 PICC Digital Protocol 시험
  • - EMV L1 PICC/PCD RF/Analog 시험
스마트카드 취약성 분석 분야
  • - 부채널 취약성 분석 시험
  • - 오류주입(Fault Injection)취약성 분석 시험
  • - 기타 보안기능 시험
스마트카드 및 단말기 국제표준적합성시험
  • - ISO/IEC 7810/7816 표준적합성시험
  • - ISO/IEC 14443(1st, 2nd) 표준적합성시험
  • - ISO/IEC 10373 스마트카드(ID) 시험
    Part 1 : General characteristics tests
    Part 2 : Cards with magnetic stripes
    Part 3 : Integrated circuit(s) cards with contacts and related devices
    Part 4 : Proximity cards (PICC/PCD)
품질보증시험(Quality Assurance Tests)
  • - Card Body Tests
    Adhesion / Amplitude / Bending
    Thermal Cycling / Humidity / Dimensions
    Card warpage / Delamination / Dynamic torsion and bending stress
    Electrical resistance and impedance of contacts
    Electromagnetic fields / Embossing character
    Magentic stripe(MS) characteristics test(surface, wear, profile)
    Location of fontacts / Resistance to chemicals
    Static electricity / Surface profile of contacts
    Ultraviolet light / Vibration / X-ray test
  • - Microcontroller Hardware Tests(EN 1292)
    Signal rise and fall times I/O contacts
    number of possible write/erase cycles in EEPROM/FLASH memory
    Vcc over and undervoltage tests
    Clock over and underfrequency tests
    Vcc/Reset/Clock current consumption
표준규격개발 및 기술개발사업 지원
  • - 스마트카드 관련 M2M 표준규격개발
  • - M2M 응용제품개발 및 기반구축사업 등
담당자
  • - 스마트카드 품질 시험 담당자 : 김진배 선임연구원 TEL) 031-428-7491 FAX) 031-455-7657
  • - 전자여권 품질 시험 담당자 : 나정은 선임연구원 TEL) 031-428-3751 FAX) 031-455-7657
  • - 스마트카드 취약점 분석 시험 담당자 : 지재덕 책임연구원 TEL) 031-428-3764 FAX) 031-455-7156
담당부서 홈으로 바로가기

아래버튼을 클릭하시면 담당부서의 홈으로 바로 연결되며 각 업무의 담당자 연락처를 확인하실 수 있습니다.

전자여권 품질시험 담당부서 홈으로 바로가기 전자기술센터로 이동
스마트카드 품질시험 담당부서 홈으로 바로가기 전자기술센터로 이동
스마트카드 취약성 시험 담당부서 홈으로 바로가기 정보보안센터로 이동

최종수정일: 2018-09-10 오후 3:57:32