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전자여권 및 스마트카드 시험

업무개요

스마트카드(SmartCard)는 집적회로(IC)가 내장된 카드로 그 편리성과 보안이 우수하여, 금융/ID/통신/교통 등 다양한 분야에서 이용되고 있습니다. 우리 연구원은 ISO/IEC 7816, 14443, 10373-6 등 스마트카드 분야 국제공인시험기관(KOLAS)으로 스마트카드 및 관련시스템(단말기 등)의 표준적합성, 내구성, 보안 등에 대한 시험을 수행하고 있습니다.

전자여권(ePassport) 및 판독기 등 ID분야

  • 국제민간항공기구(ICAO) 표준적합성시험
  • ISO/IEC 10373-6(2001, 2011) 관련시험
  • 국제민간항공기구(ICAO) 내구성시험
  • 전자여권 및 판독기 노화시험(Aging)
  • 전자여권 상호호환성 및 BMT

금융 및 교통카드 분야

  • 금융결제원 IC카드 품질인증시험
  • 전자화폐(K-CASH) 품질인증시험
  • 전자화폐 및 IC카드 단말기 품질인증시험
  • 한국도로공사 하이패스카드 품질인증시험
  • 모바일 하이패스카드 품질인증시험

모바일 근거리무선통신(NFC) 분야

  • NFC Forum 1st Wave 인증시험(Digital Protocol)
  • NFC Forum 2nd Wave 인증시험(RF/Analog, SNEP/LLCP)
  • NFC Device Confomity Test(A/B/F)
  • NFC Device 환경시험
  • ETSI SWP/HCI Card 및 Terminal 시험

EMV L1 시험인증용 디버깅 시험

  • EMV L1 PCD Digital Protocol/EMD 시험
  • EMV L1 PICC Digital Protocol 시험
  • EMV L1 PICC/PCD RF/Analog 시험

스마트카드 및 단말기 국제표준적합성시험

  • ISO/IEC 7810/7816 표준적합성시험
  • ISO/IEC 14443(1st, 2nd) 표준적합성시험
  • ISO/IEC 10373 스마트카드(ID) 시험
    · Part 1 : General characteristics tests
    · Part 2 : Cards with magnetic stripes
    · Part 3 : Integrated circuit(s) cards with contacts and related devices
    · Part 4 : Proximity cards (PICC/PCD)

품질보증시험(Quality Assurance Tests)

Card Body Tests
  • Adhesion / Amplitude / Bending
  • Thermal Cycling / Humidity / Dimensions
  • Card warpage / Delamination / Dynamic torsion and bending stress
  • Electrical resistance and impedance of contacts
  • Electromagnetic fields / Embossing character
  • Magentic stripe(MS) characteristics test(surface, wear, profile)
  • Location of fontacts / Resistance to chemicals
  • Static electricity / Surface profile of contacts
  • Ultraviolet light / Vibration / X-ray test
Microcontroller Hardware Tests(EN 1292)
  • Signal rise and fall times I/O contacts
  • number of possible write/erase cycles in EEPROM/FLASH memory
  • Vcc over and undervoltage tests
  • Clock over and underfrequency tests
  • Vcc/Reset/Clock current consumption

담당자

업무처 담당자 연락처 팩스
스마트카드 품질 시험 김진배 선임연구원 031-428-7491 031-455-7657
전자여권 품질 시험 나정은 선임연구원 031-428-3751 031-455-7657

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최종수정일: 2020-05-25 오후 9:22:21